GJ03-802光子相关纳米粒度仪的技术资料

2016年03月07日 09:43 来源：白山市玖久仪器仪表有限公司

GJ03-802光子相关纳米粒度仪是玖久仪器公司向您推荐的新一代粒度仪

仪器特点：

1.先进的测试原理

该仪器采用动态光散射原理，其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；

2.高灵敏度与信噪比

核心部件采用我公司自主研制CR256数字相关器，它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算，从而有效地反映不同大小颗粒的动态光散射信息，为测试结果的准确度奠定基础；

3.稳定的光路系统

采用光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性；

4.高精度恒温控制系统

采用半导体温控技术，温控精度高达±0.2℃，使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态，避免温度变化而引起液体黏度及布朗运动速度变化导致的测试偏差，保证测试结果准确度及稳定性。

技术参数

执行标准

GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996

GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008

测试范围1 ~ 10000nm（与样品有关）

准确度< 1%（标准样品平均粒径）

重复性< 1%（标准样品平均粒径）

测试浓度0.1mg/ml ~ 100mg/ml（与样品有关）

激光半导体激光器，λ= 532nm， P=30mW

探测器光电倍增管（PMT）

散射角90o

样品池10mm×10mm×40mm, 1 ~ 4mL

测试温度5 ~ 40 ℃

温控精度±0.2 ℃

测试速度< 5Min

体积480mm×270mm×170mm

重量12Kg

数字相关器

规格型号CR256

自相关通道256

基线通道4

单位延迟时间100ns ~ 10ms

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