原位纳米粒度监测仪

DLS动态光散射技术是非常成熟的N3表征技术，可用于测量纳米体系混悬液的粒度及粒度分布。稳定的激光光源照射布朗运动的纳米颗粒，将致使散射光强发生波动，光电二极管检测器获得这些波动后，通过斯托克斯-爱因斯坦方程可得出粒度信息。DLS只需少量样品即可完成分析，快速、精确、重复性好，是目前应用N3粒度测量方法。Vasco Kin原位纳米粒度监测仪以广为熟知的DLS动态光散射技术为基石,集成了稳定的光学单元、灵敏的光电二极管检测器和灵活的非浸入式探头,结合专用的分析软件和数学模型，是一款针对各类型纳米体系中的颗粒尺寸原位监测系统。

与传统DLS相比，Vasco Kin原位纳米粒度监测仪显著增大了样品浓度范围和粒度的测量范围。Vasco Kin原位纳米粒度监测仪不但保持了传统DLS动态光散射仪器的高灵敏度和宽适应性，还开创性地采用了非浸入式远程探头，将DLS技术带入原位过程监测的广泛应用场景，并增加了创新的时间关联功能。