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常用的粒度测量方法

2024年01月22日 09:54 来源:上海胤煌科技有限公司
纳米粒度仪原理简介:
APS从声衰减光谱测量产生PSD数据,不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。
当声音穿越泥浆或胶体时,是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1- 100MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介,APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题,因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。
APS取样分析是快速和容易的,无需稀释样品。稀释样品费时,容易出错,并可能改变样品的实际PSD。简单地倒,或者连续泵送样品进入到APS的样品室,APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。
计算详细PSD数据的技术,不需要假设PSD形状。其他类型的仪器,例如光散射,意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。
专门的APS硬件设计简化了操作,同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。
常用的粒度测量方法:
(1)筛分法
(2)沉降法(重力沉降法、离心沉降法)
(3)电阻法(库尔特颗粒计数器)
(4)显微镜(图像)法
(5)电镜法
(6)超声波法
(7)透气法
(8)激光衍射法
关键词: 纳米粒度仪

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