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用于干式检测芯片反应分布测量装置OD4-8的特点

2023年08月16日 16:00 来源:秋山科技(东莞)有限公司

用于干式检测芯片反应分布测量装置OD4-8的特点

评估 可以测量电池中的反应分布

特征

  1. 可以测量电池中的反应分布

    规范
    探测器1392×1040(像素)CCD
    像素大小20×20微米
    线性保证高达吸光度4
    测量时间测量时间点 1000
    最小测量时间间隔10(秒)
    波长405、450、570、630、810(纳米)
    温度控制37°C±0.1°C
  2. 由于它是斩波器系统,因此可以消除外部光线和噪音。

  3. 光密度是根据样品相对于参考的透射率计算的。

  4. 可以任意间隔进行连续测量。

  5. 选项多点测量 使用偏振棱镜进行极化率测量 波长下的透射率测量

OD4-苹果手机 多波长图像测量系统

它是一种可以通过移动终端测量的系统。



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