LAP-D2000-大量程干法激光粒度分析仪
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    产地
  • 福建厦门市

    所在地区
  • 2024-10-06 11:17

    更新时间
类型
生产厂家
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产品详细

LAP-D2000法激光粒度仪

LAP-D2000大量程干法激光粒度分析仪主要性能特点:

*的光路设计:

  LAP-D2000采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在zui短的焦距获得zui大量程,有效提高仪器的分辨能力;*的小探头排布,让D2000拥有了*的小颗粒测试能力。*的自动对中系统及电脑操作系统彰显出LAP-D2000人性化设计。

高稳定光路优化:

  *的设计让LAP-D2000拥有了*的高稳定光路,它采用了高稳定、长寿命的进口大功率光纤输出激光器,优良的单色性让LAP-D2000有了*的稳定性;主要光路采取了全封闭设计,保证了仪器在复杂环境长时间测试;高密度旋转式探头分布保证了LAP-D2000*的全量程无缝测试; 

*的干法分散系统:

  LAP-D2000分散系统在法国理论数据的基础上进行了优化设计,使LAP-D2000对干粉的分散更加均匀,*的负压保证了进料的连续性及均匀性,有效避免测试过程中干粉的相互粘连。

大量程干法激光粒度分析仪探测器:

  LAP-D2000探测器采用了主探测器与副探测器相结合的全新设计,保证了仪器全量程内无缝探测,使测试更加准确。主探测器设计了自动对中系统,可实现仪器的一键自动对中,彰显人性化设计。同时有效避免手动对中对探测器的损害,有效延长了仪器的使用寿命。

防尘、防震设计:

  仪器整体进行了密封设计,大幅提高了内部元器件使用寿命。*的悬浮式结构能有效避免外界震动对仪器的干扰,使结果测试更稳定可靠。

光路自动校对:

  光路微变,仪器可以自行对光路进行调节。

管道无残留:

  测试完成后管道内无残留样品,不会对下次测试造成干扰。

计算机控制喂料:

  测试人员可借助计算机精准控制仪器进料量。

主要技术参数:

LAP-D2000大量程干法激光粒度分析仪技术参数

规格型号

LAP-D2000

执行标准

ISO   13320-1:1999GB/T19077.1-2008

测试范围

0.1μm -2000μm

探测器通道数

76

准确性误差

<1%(国家标准样品D50值)

重复性误差

<1%(国家标准样品D50值)

喂料方式

高精度振动喂料方式,保证测试过程中下料均匀

误操作保护

仪器具备误操作自我保护功能,仪器对误操作不响应

激光器参数

进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm,  p>10mW

分散方法

高压空气紊流分散

软件功能

分析模式

包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等,满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求

统计方式

体积分布和数量分布,以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式

统计比较

可针对多条测试结果进行统计比较分析,可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异,对工业原料质量控制具有很强的实际意义

自行DIY显示模板

用户自定义要显示的数据,根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比,以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、*性、区间累积等等

测试报告

测试报告可导出WordExcel、图片(Bmp)和文本(Text)等多种形式的文档,满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果

多语言支持

中英文语言界面支持,还可根据用户要求嵌入其他语言界面。

智能操作模式

真正全自动无人干预操作,无人为因素干扰,您只需按提示加入待测样品即可,测试结果的重复性更好。

操作模式

电脑操作

测试速度

<1min/次(不含样品分散时间)

体积

980mm*410mm*450mm

重量

35Kg

   

 

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