牛津仪器参加半导体缺陷识别学术会议

　　
        本次会议于2015年9月6日至9月10日在江苏省苏州市举行，会议由中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所主办，浙江大学硅材料国家重点实验室和厦门大学物理学院等单位协办。该会议于1985年在法国蒙彼利埃创办，每两年举行一次，已经在半导体研究领域形成广泛的影响。
　　
　　为期4天的会议中，牛津仪器现场展示了纳米分析、纳米科学、等离子科技、纳米器件的显微光谱和成像以及原子力显微镜解决方案。来自牛津仪器AsylumResearch原子力显微镜部门的技术专家OskarAmster在会议中作了题为ExtendingElectricalScanningProbeMicroscopyMeasurementsofSemiconductor
DevicesusingMicrowaveImpedanceMicroscopy的演讲报告，并现场进行了设备演示。　　
        牛津仪器将继续以支持中国科学研究发展为己任，为中国广大科研人员提供高性能、高可靠性的纳米研究设备；同时牛津仪器的服务团队也可以为用户提供系列服务套餐，包括配件和耗材、延保合同、产品培训、服务维修和等。