OTSUKA 大塚电子 粒度计 ELSZneoSE的应用

OTSUKA 大塚电子（大塚電子），1970 年创立，隶属于大塚集团，是日本深耕光测量、光散射分析技术的专业仪器厂商，主打 “用光去检测材料”，在显示面板、半导体薄膜、新能源材料、生物医药、化工粉体领域认可度很高。国内设立苏州子公司，为国内产线、实验室提供技术支持与校准服务，拥有 JCSS 计量校准资质，测量数据具备国际可追溯性。

大塚电子两大核心技术底座：多通道分光检测技术、动态光散射（DLS）颗粒检测技术。产品线主要分为三大板块：光谱测量设备、纳米颗粒分析仪器、薄膜光学 / 膜厚检测设备。区别于普通仪器厂商，它可以同时覆盖产线在线检测和实验室研发分析，从紫外、可见光到近红外全波段光谱采集，兼顾色度、透过率、反射率、膜厚、粒径、Zeta 电位多项检测需求。

典型应用场景：LCD/OLED、MiniLED 光学评测、半导体晶圆与光刻胶膜厚检测、锂电池浆料、纳米粉体、医药乳液、化妆品原料粒度分析、光学薄膜、车灯 LED 光源检测。大量日系原厂设备配套、高校实验室、新材料企业研发 QC 都选用大塚电子，是光学与材料物性检测领域经典日系仪器品牌。