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纳米粒度及zeta电位仪有哪些特点
2019年12月26日 10:15
来源：大昌洋行（上海）有限公司（大昌华嘉科学仪器部）
1.膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。
2.快速傅利叶变换算法，迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
3.纳米粒度及zeta电位仪采用新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法。
4.“Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位，避免样品交叉污染与浓度变化。
5.纳米粒度及zeta电位仪可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
6.异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
7.无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果。
8.超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
9.消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。
2.快速傅利叶变换算法，迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
3.纳米粒度及zeta电位仪采用新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法。
4.“Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位，避免样品交叉污染与浓度变化。
5.纳米粒度及zeta电位仪可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
6.异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
7.无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果。
8.超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
9.消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。
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