BOS-NGH光相关激光粒度仪是我公司新推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用高速光子相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定的产品。

光子相关纳米粒度仪基本原理图

主要性能特点：

   优良的测试原理：本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理优良、精度较高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；是纳米激颗粒粒度测定的仪器。

   高灵敏度与信噪比：本仪器的探测器采用专业级高性能光电倍增管（PMT），对光子信号具有较高的灵敏度和信噪比，从而保证了测试结果的准确度；

较高的分辨能力和较强的运算功能：使用PCS技术测定纳米级颗粒大小，必须能够分辨纳秒级信号起伏。本仪器的核心部件采用专用集成电路ASIC研制的高速光子相关器，具有识别6ns的较高分辨能力和较高的信号处理速度，可快速实时的采集光子数并计算相关运算，为测试尊确定奠定基础。

稳定的光路系统：采用短波长LD泵浦激光光源和光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性。

高精度温控系统：样品池温控系统和激光器温控系统精度高达±0.1℃，使被测样品和激光器光源在整个测试过程中都处于恒温状态，避免温度变化对不测试结果的影响，确保测试准确和重复；

较强功能的分析软件：分析软件中反演算法采用国际标准推荐的累计量法以及目前比较通用的非负最小二乘法（NNLS）和Contin等多种算法，其测试结果与国际的同类产品具有很好的一致性；

测试精准并稳定：高性能的硬件和国际标准化的反演算法的结合，造就NGH测试结果的精准与重复，其测试准确度和重复性等指标均高于国际标准要求。

BOS-NGH升级款功能：

BOS-NGH升级款是我司在BOS-NG标配款多年来在广大用户使用过程中不断发现缺陷；累积经验优化的成果。

BOS-NGH升级款是在BOS-NG标配款单一波长的基础上升级为双波长激光器：采用双波长（λ=454nm、λ=532nm）激光器搭建而成的光路系统，相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性；在广大用户案例中发现有些样品具有吸光属性，传统单一波长激光器对此类样品无法准确检测，我司新BOS-NGH搭载的双波长激光器能有效检测此类样品。

BOS-NGH升级款全新散热系统：BOS-NGH进行了双气流设计，热气流直接排出仪器外壳，倍增管、激光器、相关器等重要部件不再受热气流的影响，测量数据更加准确、更稳定，同时大大延长了这些重要部件的使用寿命。

（测试界面图）

BOS-NGH光相关纳米粒度仪技术参数及详细配置

BOS-NGH配置清单