X-射线粒子扫描仪 (XP7)

OCS X-射线粒子扫描仪 (XP7) 能检测出高度透明和不透明颗粒中的金属缺陷，从而提高聚合物的产品质量。XP7测量系统中创新的X射线技术可实时分析粒子流的图像。由于金属和聚合物对X射线的吸收不同，嵌入的50微米以上的金属颗粒可被检测出来。缺陷颗粒被一个多轨道空气喷嘴系统分拣出来。

可测试的原材料

■高透明粒子

■不透明粒子

X-射线粒子扫描仪 (XP7) 特点

■高分辨率的X射线图像

■可检测到的zui小缺陷尺寸：50 µm

■处理量可达600公斤/小时, 根据具体材料性能差异而不同

■符合设备全面保护的技术要求

■结果实时可视化显示

■用于分拣缺陷颗粒的多轨道空气喷嘴系统