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BOS-NGH高配纳米激光粒径分析仪
主要性能特点:
先进的测试原理:高配纳米激光粒径分析仪采用动态光散射原理和光子相关光谱技术,根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快,大颗粒布朗运动速度慢,激光照射这些颗粒,不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度*的特点,从而保证了测试结果的真实性和有效性;是纳米激颗粒粒度测定的仪器。
高灵敏度与信噪比:本仪器的探测器采用专业级高性能光电倍增管(PMT),对光子信号具有*的灵敏度和信噪比,从而保证了测试结果的准确度;
*的运算功能:使用PCS技术测定纳米级颗粒大小,必须能够分辨纳秒级信号起伏。本仪器的核心部件采用集成电路ASIC研制的高速光子相关器,具有识别6ns的*分辨能力和*的信号处理速度,可快速实时的采集光子数并计算相关运算,我测试尊确定奠定基础。
双波长激光器:采用双波长(λ=454nm、λ=532nm)激光器搭建而成的光路系统,相关谱探测系统不仅体积小,而且具有很强的屏蔽能力,从而保证了测试的稳定性;某些样品具有吸光属性,传统单一波长激光器对这些样品无法检测,我司BOS-NGH搭载的双波长激光器能有效检测此类样品。
高精度温控系统:样品池温控系统和激光器温控系统精度高达±0.1℃,使被测样品和激光器光源在整个测试过程中都处于恒温状态,避免温度变化对不测试结果的影响,确保测试的准确性和重复性;
*功能的分析软件:分析软件中反演算法采用标准推荐的累计量法以及目前比较通用的非负小二乘法(NNLS)和Contin等多种算法,其测试结果同类产品具有很好的一致性;
测试稳定:高性能的硬件和标准化的反演算法的结合,造就了BOS-NGH测试结果的重复,其测试准确度和重复性等指标均高于标准要求。
全新散热系统:新NG进行了双气流设计,热气流直接排出仪器外壳,倍增管、激光器、相关器等重要部件不再受热气流的影响,测量数据更加准确、更稳定,同时大大延长了这些重要部件的使用寿命。
自动感应滑门:新NG加装了比色皿门自动开启、闭合功能,当手靠近仪器时滑门会自动打开方便测试人员拿取比色皿,当手远离仪器时滑门会自动闭合。
此款纳米粒度仪已经达到国外纳米粒度仪的测试水平!
BOS-NGH光相关纳米粒度仪技术参数及详细配置
规格型号 | BOS-NGH |
执行标准 | GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008 |
测试范围 | 1-10000nm(与样品有关) |
浓度范围 | 0.1mg/L-100mg/L |
准确度误差 | <1%(国家标准样品平均粒径) |
重复性误差 | <1%(国家标准样品平均粒径) |
激光 | λ=405nm,λ=532nm(双波长激光器) |
探测器 | 光电倍增管(PMT) |
散射角 | 90° |
样品池 | 10mm*10mm , 4ml(带温控保护) |
温度范围 | 8-45℃(温度到0.1℃) |
测试速度 | <1Min/次(不含样品分散时间) |
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