ZML-310-显微镜图像法粒度仪
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    产地
  • 上海上海市

    所在地区
  • 2024-10-07 09:00

    更新时间
类型
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产品详细


ZML-310显微镜图像法粒度仪产品介绍:

ZML-310透皮乳膏粒度晶型分析仪是采用显微镜图像法测量颗粒粒度大小、形状特征、颗粒表面颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。其工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜,将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中,用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析,并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的显微粒度分析仪器。

透皮乳膏粒度仪图片2.pngimage.png

ZML-310显微镜图像法粒度仪技术参数:

1.粒径范围:200nm-3000μm

2.准确性:<3%。

3.粒径参数:等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。

4.粒度统计:体积、面积、颗粒。

5.形状参数:圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

6.摄像机:1800万像素。

7.软件自动进行统计样品颗粒,并对颗粒进行做粒度分布。

8.可以得到常规的平均粒径,D10,D50,D90等参数。

9.配置奥林巴斯显微镜,成像更加清晰。


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