HORIBA纳米粒度及Zeta电位分析仪

nanoPartica SZ-100V2

纳米粒度及Zeta电位分析仪

型号SZ-100-S2和SZ-100-Z2

能表征纳米颗粒的三个参数：粒径、Zeta 电位和分子量。

纳米技术的研发是一个持续不断的过程，这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸，从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。

简单快捷的纳米颗粒多参数分析！

一台设备、三种功能，可对每个测量参数进行高灵敏度、高精度的分析。

粒径测量范围0.3 nm ~ 10 µm

SZ-100V2 系列采用动态光散射 (DLS) 原理测量颗粒粒径大小及分布，实现了宽浓度范围的样品测量。

Zeta 电位测量范围– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta电位样品池测量Zeta 电位值，通过Zeta电位可预测和控制样品的分散稳定性。Zeta 电位值越高，则意味着分散体系越稳定。

分子量测量范围1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通过测量不同浓度下的静态光散射强度并通过德拜记点法计算样品的绝对分子量 (Mw) 和第二维里系数 (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的复杂信息处理能力和学习能力，可快速确定纳米颗粒的特性！

SZ-100V2 系列具有双光路设计，既可以测量高浓度的样品，如浆体和染料；同时也可以用于测量低浓度样品，如蛋白质、聚合物等。

使用单台设备即可表征纳米颗粒的三大参数——粒径、Zeta 电位和分子量

HORIBA研发的Zeta 电位样品池可防止样品对其造成污染。样品池容量（不低于容量100 μL）小适用于稀释样品的分析。

HORIBA研发的Zeta 电位样品池的电极由碳材料制成，该材料不会受到盐溶液等高盐样品的腐蚀。

HORIBA纳米粒度及Zeta电位分析仪

SZ-100-S2 测量规格

*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取决于样本。
*2：取决于样品。
*3：F 微型电池。

SZ-100-Z2 测量规格（粒度和分子量测量规格与 SZ-100-S2 相同。）

*4：取决于样品。
*5：推荐的样品电导率范围：0 到 2 S/m。
*6：取决于样品。