显 微 系 统

光路系统

有限远机械筒长

观察头

45 度铰链式三目头 (50mm -75mm),对中望远镜,可100%通光摄影

45 度铰链式双目头 (50mm -75mm),对中望远镜

目镜

WF10X/Ф20mm

长工作距平场消色差物镜

倍率

数值孔径(N.A.)

工作距离(W.D.)

10×

0.25

8.1

25×

0.4

4.8

40×(S)

0.6

3.3

相衬物镜

10×

0.25

8.1

放大倍数

40×-400×

物镜转轮

四孔内向物镜转换器

载物台

双层移动平台:200mmX152mm,移动范围: 75mmX30mm

聚光镜

N. A.0.4 阿贝聚光镜,工作距离 30mm,带滤色片托架

标本架

Φ68mm/Φ72或77mmX33mm培养器皿

相衬装置

10×相衬环板中心可调

调焦机构

粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置板,微动格值:2μm,调焦范围:30mm

照明系统

卤素灯 6V/20W，可调光亮度

总放大倍数

4倍——1600倍

摄 像 系 统

最高分辨率

2048×1536

像素尺寸

3.2μm×3.2μm

成像元件

1/1.8英寸 progress scan CMOS

帧率

6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480

最高清晰度

900线

信噪比

小于42dB

敏感度

1.0V@550nm/lux/S

输出方式

USB2.0

实际观测范围

1微米——3000微米

软件参数

软 件 功 能

静态采集

将样品形貌拍摄为高清晰BMP图片

图片处理

使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理

图像拼接

将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性

颗粒的自动处理工具集

自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。

比例尺标定

通过国家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。

单个颗粒数据

可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析

任务管理机制

严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。

报告输出

将测试结果输出为报告，并可以自定义报告样式。

整体分布特征参数

D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数

报 告 参 数

整体频率分布累计分布

颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。

统计平均径

Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径

形状参数

长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据

个数统计

直接得到所观测的颗粒数量

样品缩略图

可以将样品缩略图显示到报告中

表头输入

可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中

自定义LOGO

用户可以自定义LOGO和报告名称，使输出的报告显示自己公司的信息