SZ-100 动态光散射纳米颗粒分析仪

  • 日本

    产地
  • 国外国外

    所在地区
  • 2024-12-11 09:00

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产品详细

 

粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)

粒径测定范围:0.3nm ~ 8μm

粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)

Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法

Zeta 电位测量范围:-200 mV ~ +200 mV

分子量测量原理:Debye plot

分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da

测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)

样品量:12μL ~ 1000μL

 

产品特点

 

· 同台仪器可测三种参数

· 样品浓度zui大可达40%

· 样品量小

· *的样品池设计zui小化电渗效应

· 软件操作简单功能强大,一键测量

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