澳谱特科技参加第十四届中国颗粒大会亮相行业盛会

2026年11月5日-8日，第十四届中国颗粒大会（CCPT14）在广州隆重召开。作为国内颗粒测试与表征领域具有影响力的学术盛会，本次大会聚焦颗粒科学前沿技术、仪器创新与产业应用，汇聚全国高校科研专家、企业及技术从业者，搭建产学研深度交流、技术成果转化的平台。澳谱特科技（上海）有限公司携旗下核心检测设备参展，以精准的颗粒表征技术、智能化检测方案，亮相本次行业盛会，斩获广泛关注。

本次展会期间，澳谱特科技重点展出两大核心主力设备，展现企业在纳米粒度及Zeta电位分析仪、图像法粒度粒形分析仪等领域的技术沉淀与创新实力。其中Zetatronix 939SZ纳米粒度及Zeta电位分析仪作为本次参展明星产品，依托成熟的动态光散射技术与精准的电位分析算法，可高效完成纳米级颗粒粒径测试、分散体系稳定性分析，适配纳米材料、生物医药、精细化工、涂料油墨、新能源材料等多领域的研发检测与品控需求，有效解决行业内样品测试偏差大、数据重复性差、稳定性难判定等痛点，助力企业实现从“精准测量”到“高效应用”的技术升级。

同时亮相的MorphoVIEW系列图像法粒度粒形分析仪，凭借高清成像、AI智能识别分析、还原真实形貌的核心优势，打破传统粒度检测仅测量粒径数值的局限，可精准捕捉颗粒粒径、圆形度、长径比等多维形貌参数，实现颗粒“尺寸+形态”的一体化精准表征，广泛应用于粉体材料、金属粉末、食品医药、航空航天等高精度检测场景，为材料性能优化、产品品质升级提供核心数据支撑。

展会学术交流环节，澳谱特科技资深应用工程师受邀发表主题报告，围绕AI智能颗粒识别表征、纳米粒度与Zeta电位精准检测实操、复杂粉体样品测试难点解决方案等行业热点、技术痛点展开深度分享。结合大量真实行业案例，详细讲解了新型智能算法在杂质颗粒识别、粉体分类检测中的落地应用，以及样品前处理、仪器参数优化、数据精准解读、实验室标准化检测的全流程实操要点，有效解答了现场嘉宾在日常检测、实验研发、质量管控中遇到的各类难题。

 报告内容兼具学术前沿性与产业实用性，贴合当下颗粒检测行业智能化、精准化的发展趋势，获得现场科研学者、行业同仁的高度认可与热烈讨论。不少参会专家、企业技术人员驻足澳谱特展台，深入咨询设备性能、技术参数、定制化解决方案，就不同场景下的颗粒检测难点、技术迭代方向展开深入交流，达成多项合作意向。

深耕颗粒测试表征领域多年，澳谱特科技始终专注于粒度粒形分析仪器的研发、生产与技术服务，坚持以技术创新驱动行业升级，持续打磨高精度、智能化、易用化的检测设备与一体化解决方案。此次亮相第十四届中国颗粒大会，不仅全面展示了企业的核心产品实力与前沿技术成果，更借助行业平台，深度链接产学研资源，精准对接行业市场需求。

未来，澳谱特科技将持续聚焦颗粒检测技术创新，深耕纳米检测、粉体形貌表征核心赛道，不断优化产品性能、升级技术服务，为各行各业颗粒材料的研发创新、品质管控、产业升级提供更专业、更高效、更可靠的检测支撑，助力国内颗粒测试行业高质量发展。