新品发布！！Otsuka Electronics 大塚电子 Zeta电位及粒度分析仪 ELSZ-2000

新品发布！！Otsuka Electronics 大塚电子 Zeta电位及粒度分析仪 ELSZ-2000系列

新品发布！！Otsuka Electronics 大塚电子 Zeta电位及粒度分析仪 ELSZ-2000系列

近期我司新推出Otsuka Electronics 大塚电子 Zeta电位及粒度分析仪 ELSZ-2000系列

除了现有的zeta电位和粒径测量功能外，新增了分子量分析功能（粒径范围：0.6nm-10μm/浓度范围：0.00001%-40%）。

采用电渗测量技术，利用微量（130μl）一次性样品池即可实现高精度zeta电位分析。

此外，新增的自动温度梯度功能，温度范围扩展至0℃至90℃，使得熔点和相变点分析成为可能。

• 采用新型APD，灵敏度更高，测量时间更短。

• 利用自动温度梯度功能实现熔点和相变点分析。

• 工作温度范围宽广，介于0℃至90℃之间。

• 广泛的分子量分析。

• 支持浓缩样品测量。

• 利用电渗测量和图表分析进行高精度zeta电位分析。

• 支持对盐浓缩样品进行zeta电位测量。

• 小面积样品的表面zeta电位。

●测量范围

*1（乳胶112nm：0.00001～10%，牛磺胆酸：～40%）

适合用于表面化学、无机、半导体、聚合物、生物技术、制药和医疗领域的颗粒表征的基础和应用研究，以及薄膜和平面状态样品的表面研究。

• 新型功能材料
  燃料电池（碳纳米管、富勒烯、功能薄膜、催化剂、纳米金属）、
  生物纳米技术（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS）、纳米气泡
   

• 陶瓷和涂料
  陶瓷（二氧化硅、氧化铝、二氧化钛）表面
  改性剂、无机溶胶的分散性和粘结性
  炭黑和有机颜料的分散性和粘结性 浆料
  状态样品
  滤色片
  浮选吸附研究




• 半导体
  外星物体在硅片上的研究；
  磨料/添加剂对晶圆表面的相互作用研究；
  CMP浆料
   

• 聚合物和化学
  乳液的分散和内聚；
  乳胶表面改性剂；
  聚电解质的功能研究；
  造纸过程控制和纸浆添加剂研究
   

• 药物和食品　
  乳液分散和内聚；
  脂质体和囊泡的分散/内聚控制；
  表面活性剂（胶束）的功能