第十届中国国际纳米科学技术会议 在北京国际会议中心成功举办

第十届中国国际纳米科学技术会议 (ChinaNANO 2025) 在北京国际会议中心成功举办

2025年8月29日~9月1日，由国家纳米科学中心主办的第十届中国国际纳米科学技术会议 (ChinaNANO 2025) 在北京国际会议中心成功举办。

在基金委的长期支持下，已成功举办了十届的ChinaNANO会议。作为影响力的纳米科技盛会，再次为学者搭建了高水平的交流合作平台，彰显其地位。会议期间，国内外科学家与行业专家亲自主持主题会议，聚焦前沿问题展开深度对话；通过特色论坛，有效拓展了学术与商业网络、深化了产学研互动、培育了未来合作，此次会议特设环节为青年科学家提供展示成果、促进职业发展的宝贵舞台，反响热烈。展会现场气氛活跃，来自纳米领域专业人士、学者及研究人员人头攒动，交流探讨的氛围格外浓厚。

法国Cordouan Technologies作为掌握纳米粒度原位监测技术的制造商，受邀出席本次会议，并展示了VASCO Kin原位纳米粒度监测仪等仪器设备。

ChinaNANO 2025的成功举办，不仅延续了该系列会议的传统，更进一步巩固了其作为纳米科技领域核心交流枢纽的重要地位，有力推动了该领域的知识共享、协同创新与发展进步。

会议结束后，法国Cordouan Technologies公司David JACOB先生和王小欢经理一行到访北京海菲尔格科技有限公司，双方展开深入交流并就中国市场的合作模式进行了充分沟通与探讨。

Vasco Kin原位纳米粒度监测仪

法国Cordouan Technologies公司Vasco Kin原位纳米粒度监测仪集成了稳定的光学单元、灵敏的APD检测器和灵活的非浸入式探头，结合专用的分析软件和数学模型，开发出的、针对各类纳米体系中颗粒尺寸的原位监测系统。不但保持了传统DLS动态光散射仪器的高灵敏度（粒径范围0.5nm~10μm）和宽适应性（样品浓度1ppm~40%，视样品而定），还开创性地采用了非接触远程式探头，将DLS技术带入原位过程监测的广泛应用场景，增加了创新的时间关联功能。

Vasco Kin原位纳米粒度监测仪主要技术优势包括：

流体动力学分析

高速数据采集，实时数据处理

集成化程度高，无运动部件，维护和使用成本低

模块化设计，可更换探头，一机多能，一机多用

时间切片，可选取监测曲线中的任意时间段进行粒径分析

超低延时，无需频繁采样，原位监测纳米颗粒的变化过程

测试灵活，可根据样品浓度及透光性调整工作距离和散射角

操作简便，非浸入式探头，无需批量稀释，无需样品预处理

适用性好，配备背散射技术，原浓或深色的不透明样品同样适用

Vasco超高浓度纳米分析仪

Vasco超高浓度纳米分析仪是一款采用样品厚度控制技术（DTC）设计的用于深色和高浓分散体系纳米粒度测量的创新设备，适用于从稀溶液和透明溶液到深色和浓缩胶体（如原油、油墨、墨水（包括电子墨水和打印墨水）、化妆品、石墨烯、电池材料和浆料、油墨和涂料）等广泛胶体悬浮液的测试。

Vasco使用的是DTC背散射系统，可直接测试不透明的深色溶液、超高浓度溶液、稀溶液等。

Vasco超高浓度纳米分析仪主要技术优势包括：

无耗材，使用和维护成本低

适用于多峰和复杂样品的原位测试

可选配原位样品池，可进行尺寸动力学研究

可选光学滤光片，提高荧光样品的测试结果可靠性

可选配冲洗器，可自动去除溶液中的灰尘和气泡的影响

样品浓度范围：0.0001%~40%无需过滤或稀释，原位直接测试

Amerigo实验室原位纳米粒度仪

Amerigo实验室原位纳米粒度分析仪是一款全新的分析设备，用于表征纳米颗粒悬浮液，将纳米粒度分析和Zeta电位测量和在线原位纳米粒度分析三合为一，具备时间分辨功能，同时也可以测量高分子/蛋白质的Mw分子量。

Amerigo实验室原位纳米粒度仪主要技术优势包括：

三合一仪器

高耐久性玻璃碳电极

两种测量角度：170°和17°

可以配备远程原位测量探头

基于DLS和LDE技术的测试技术

可以获得在标准样品池测量的优良性能

标准化的样品池设计，规格为：10mm×10mm

软件特色：动态时间切片和时间分辨，易于使用的直观软件

Thetis多角度偏振光纳米粒度仪

Thetis多角度偏振光纳米粒度分析仪是纳米粒度表征行业实现对胶体悬浮液中各向异性纳米颗粒的长度和宽度的测量，集DLS、SLS和DDLS三种模式于一体，30º~150º多角度可调（最小步长0.1º），可以测量长度，宽度和长径比自动计算以及分子量、回转半径、转动和平动扩散系数，非常适用于金纳米颗粒、碳纳米管、各向异性病毒、磁性颗粒、纳米棒等各相异性纳米颗粒。

Thetis多角度偏振光纳米粒度仪主要技术优势包括：

30°~ 160°多角度连续测量

时间分辨测量，分辨率为200ms

集DLS、SLS和Depolarized-DLS测量于一体