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新品发布 | 激光粒度仪Litesizer DIF & Litesizer DLS 系列
新品发布
Litesizer DIF
Litesizer DLS
Litesizer DIF 激光衍射粒度仪
Litesizer DLS 系列
动态光散射粒度
和 Zeta 电位分析仪
01
Litesizer DIF 激光衍射粒度仪
安东帕的新型激光衍射粒度仪，它建立在近 60 年的专业知识和其前身 PSA 的宝贵经验之上。
Litesizer DIF 提供新一代的粒度测量技术，测量范围从 10 nm 到 3.5 mm。这是一个新时代的开始，拥有出色的光学系统、强大的 10 mW 和 25 mW 双波长激光器，以及精确的 0.01° 到 170° 的宽范围衍射角检测器阵列。
主要特点
尺寸范围从10nm 到 3.5mm
两个固态激光器，10 年保修
市场上更高的激光功率和更宽的角度范围
16kHz 的精密数据采集率
光学系统具有减震和防尘设计，稳定耐用
快速连接的分散单元，可与Litesizer DIA互换
Kalliope软件-直观的一页工作流程设计和专用的QC模式
行业应用
水泥和矿物
制药行业
食品饮料
化学工业
催化剂
金属粉末
02
Litesizer DLS 系列动态光散射粒度
和 Zeta 电位分析仪
全新 Litesizer DLS 系列动态光散射粒度和Zeta电位分析仪提供更好的粒度和 Zeta 电位测量功能。具有出色的多角度测量和自动角度选择功能，更为先进的 MAPS 多角度协同粒度测量 技术，可实现更高的峰值分辨率。连续透射率监测可在测量过程中检测沉降和团聚，从而提高测量的可靠性。
主要特点
全功能模式：智能多角度DLS粒度测量、多角度联合MAPS粒度测量、ELS模式Zeta电位测量、SLS分子量测量、PCON粒子浓度测量、透光率测量、折光率测量
测量温度： 0 到120℃
最小样品量：1.5μL
DLS 测量角度：15°、90°、175°三角度
粒度测量范围从 0.3 nm 到 12 µm
优秀 cmPALS 技术，更出色的 Zeta 电位分析
Kalliape软件：更智能的粒度测量软件，简洁智能，简单易用，三次点击即可获得专家级测量结果
市场上更强大的偏振和荧光滤光片
可升级：三角度荧光滤光片和偏振片
具备Litesizer DLS101、501、701不同型号，满足不同需求
行业应用
制药和生命科学
化学工业
食品饮料
重工业和石油
废水和造纸
半导体和电池
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