仪思奇科技携多款新产品亮相IPB2018

第十六届中国粉体加工/散料输送展览会（IPB2018）作为粉体行业的重要的年度盛会于2018年10月17日在上海世博展览馆盛大开幕。仪思奇科技携多款新产品亮相此次展会。此次参展的主要产品主要有新一代高分辨率图像法粒度粒形分析仪IPAC2；图像法颗粒跟踪zeta电位分析仪ZetaCompact^®；固体表面电位仪ZetaCAD^®和超声法粒度和zeta电位分析仪。

仪思奇科技一直孜孜以求于把的颗粒分析技术引入国内市场，让新老客户了解到的图像粒度分析技术水平和丰富的多种zeta电位解决方案。

在此次展会上，仪思奇科技展出了分辨率可达到0.17微米/像素的图像法粒度粒形分析仪IPAC2。IPAC2图像法粒度和粒形分析仪属于湿法动态分析仪器，其分析范围粒度范围：0.3~1000μm，具有1200万像素CMOS成像系统，可配置自动进样系统。IPAC2可以确定蛋白质药物中污染物来源及聚集体个数,符合药典要求；可对蛋白质中气泡、硅油、异物等进行分类和数量统计，并可用于抛光液中的颗粒计数。

OCCHIO公司的ghost技术，可以对透明颗粒进行成像；强大的软件系统，使得IPAC2具有跟踪和计数功能。IPAC2是解决蛋白质、乳液等样品粒度粒形分析的利器。

在此次展会上同时展出了图像法zeta电位仪zetaCompact^®和固体表面zeta电位仪ZetaCAD^®。

图像法zeta电位分析是用于光散射电泳法和电声法zeta电位分析校准的基准仪器，可用于解决测量从20nm到50μm颗粒的电泳迁移率所遇到的所有问题，并计算胶体悬浮液的zeta电位。*，密度高或粒径大的颗粒会沉积在测量室底部。图像法zeta电位仪zetaCompact^® 采取具有角度寻径分辨率的高精度图像分析方案，在垂直平面内测量悬浊液中颗粒的电泳迁移率分布，计算zeta值。并且能给出每个颗粒的zeta值，给出真正的zeta电位分布图（如下图），特别适合于乳液、纤维、混合材料、矿浆等样品的测定和分离条件确定。

     固体表面电位分析仪ZetaCAD^®是基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。ZetaCAD^®适用于50μm以上的大颗粒、纤维和膜类等平坦的表面，或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品，包括聚合物、纺织、陶瓷、玻璃等，对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。固体表面电位分析仪研究材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性。

在IPB同期举行的2018第三届上海医药粉体制备技术交流会，邀请了国内药用粉体颗粒领域的专家开展高峰论坛，仪思奇科技总经理杨正红先生应邀做《静态图像法粒度和形貌分析技术在药品质量控制中的应用》主题报告。通过此次论坛，仪器厂商交流学习，广大用户互助探讨，进一步加深了对药用粉体颗粒领域颗粒表征技术的理解。

仪思奇科技一直秉承创新仪器科技，支撑材料研究的理念；推广的仪器，提供的服务为宗旨。